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JEM-2010透射电镜

时间:2011-05-06

仪器设备名称及型号:透射电镜JEM-2010
产地及厂家:日本电子
购买日期:2005

一、技术参数:
加速电压:200kv    线分辨率:0.14nm    点分辨率:0.2nm

二、功能/应用范围:
材料显微结构分析,明场像  暗场像  选区电子衍射  高分辨晶格像  EDS。
三、主要附件:
EDS  能谱  (Link ISIS)

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